Zapraszamy do lektury artykułu pt. System Architecture for Diagnostics and Supervision of Industrial Equipment and Processes in an IoE Device Environment w czasopiśmie MDPI Electronics, który opisuje wyniki prac zespołu badawczego w składzie: Bolanowski M., Paszkiewicz A., Żabiński T., Piecuch G., Salach M., Tomecki K.
Abstrakt :
Komponenty IoE stają się integralną częścią naszego życia i wspierają działanie systemów takich jak inteligentne domy, inteligentne miasta czy Przemysł 4.0. Duża liczba i różnorodność komponentów IoE wymusza tworzenie elastycznych systemów akwizycji, przetwarzania i analizy danych. W pracy przedstawiono propozycję nowego elastycznego modelu architektury i stosu technologicznego przeznaczonego do diagnostyki i monitorowania komponentów i procesów przemysłowych w środowisku urządzeń IoE. Proponowane rozwiązania umożliwiają tworzenie niestandardowych, elastycznych systemów do zarządzania rozproszonym środowiskiem IoT, w tym implementację innowacyjnych mechanizmów, takich jak na przykład: konserwacja predykcyjna, wykrywanie anomalii, inteligencja biznesowa, optymalizacja zużycia energii czy nadzór nad procesem produkcyjnym. W niniejszym opracowaniu zaproponowano dwie szczegółowe architektury systemu, a jedna z nich została zaimplementowana. Opracowany system został przetestowany w warunkach zbliżonych do produkcyjnych przy użyciu rzeczywistej infrastruktury urządzeń IoT, w tym systemów przemysłowych, dronów i sieci czujników. Wyniki pokazały, że zaproponowany model centralnego systemu gromadzenia i przetwarzania danych pozwala na elastyczną integrację różnych rozwiązań IoE i ma bardzo duży potencjał wdrożeniowy wszędzie tam, gdzie istnieje potrzeba integracji danych z różnych źródeł i systemów.
Więcej szczegółów znajduje się na stronie internetowej: https://www.mdpi.com/2079-9292/12/24/4935
